Области применения

Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность

   Электронная промышленность - это одна из самых технологичных и капиталоемких отраслей. Каждый производственный этап требует соответствующего решения задач измерений и контроля соблюдения тех процесса. Наша компания предлагает широкий перечень оборудования для каждой стадии, начиная с определения качества подложки с помощью физических и химических методов анализа (электрохимическое профилирование, лазерная интерферометрия) и заканчивая измерениями топологической нормы на готовых полупроводниковых структурах (светло и темнопольная микроскопия, рентгеноскопия).

Категории оборудования

Все категории
Оборудование для экологического мониторинга
Оборудование и комплексные решения, от отдельного газоанализатора до передвижных и стационарных экологических постов (ПЭП, ПЭЛ, АСКЗА), систем мониторинга промышленных дымовых выбросов и сбросов сточных вод предприятий.
Масс-спектроскопия с индуктивно связанной плазмой
Позволяют количественно определять практически все элементы периодической системы Менделеева и проводить изотопный анализ, т.е. определять содержание отдельных изотопов элемента и определять изотопные отношения, что востребовано при анализе ядерных материалов и геологических образцов.
Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-АЭС)
Предназначены для измерения массовой концентрации элементов в растворах после необходимой пробоподготовки в соответствии со стандартизованными и аттестованными методиками выполнения измерений в диапазоне от нг/л до 100%.
Виброизоляционные столы
Антивибрационные платформы и системы изоляции для обеспечения минимальных помех при работе высокоточного оборудования.
Установки измерения дефектности пластин
Позволяют оценивать качество пластин и подложек, применяемых для производства электронных компонентов, определять источник появления загрязнений, повреждений и структурных дефектов.
Голографические микроскопы и профилометры
Предназначены для высокоточного определения геометрических параметров пластин из полупроводниковых и диэлектрических материалов, выявления царапин, изгибов, деформации и других дефектов.
Антивибрационные решения для науки и промышленности
Комплексные решения для защиты тяжёлого высокоточного измерительного и производственного оборудования от вибраций: антивибрационные платформы и столы, машинные пьедесталы.
Электронные микроскопы и пробоподготовка
Растровые электронные микроскопы для научных и прикладных задач.
Сканирующая зондовая микроскопия
Широчайший спектр оборудования для сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии): системы с переменной температурой образца, низкотемпературные модификации, системы для крупных образов.
Вибрационные испытательные стенды
Позволяют проводить оценку параметров продукции при проектировании, апробации, упаковке и транспортировке, параметров надежности, испытания на усталость и моделировать различные условия влияния окружающей среды.
Молекулярный анализ
Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR) исследует жидкие, твердые и газообразные объекты и предназначена для определения структуры молекул. В качестве прикладных задач возможны контроль качества сырья и продукции, определение содержания загрязняющих веществ в природных объектах, расшифровка состава сложных смесей. Широко используется в криминалистике, фармацевтике, полупроводниковой и атомной промышленности.
Анализ структуры методами рентгеновской дифракции
Является одним из наиболее распространенных методов для определения фазового состава исследуемых образцов. Позволяет идентифицировать структуру, оценить содержание той или иной фазы в образце, вид кристаллической решетки, размер элементарной ячейки и многое другое.
Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера
Спектральные визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера Accurion с уникальной in-situ визуализацией высокого разрешения, позволяющей наблюдать структуру образца на микро-уровне и измерять оптические параметры пленок и покрытий в режиме реального времени с картированием выбранной поверхности по этим параметрам.
Измерения электрических характеристик
Установки для измерения электрических характеристик пластин с помощью четырехзондового метода или методом ртутного зонда.
Усилители мощности
Современные модели усилителей мощности характеризуются низкими показателями шума, гармонических искажений и энергопотребления, имеют инновационные технологии адаптивного цифрового управления, позволяют проводить мониторинг в реальном времени и многое другое. и специализированное многокаскадное двухтактное усиление.
Контроллеры вибростендов
Сочетают в себе различные варианты использования алгоритмов цифрового управления и ПИД-регулирования для адаптивного контроля за вибрациями, новейшую технологию DSP, возможности интеграции с любыми системами, оптимизированную конструкцию с минимальным шумом, полный набор специализированного программного обеспечения и многое другое.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01