Голографические профилометры Lyncee Tec

Цифровая голографическая микроскопия и профилометрия (Digital Holographic Microscopy) разработана и запатентована компанией Lyncee Tec SA — компанией, зародившейся в одной из лабораторий Политехнического университета города Лозанна (Швейцария). Эта передовая методика по уровню измерительных характеристик на настоящий момент находится среди наиболее точных оптических методов изображения поверхности. Разрешающая способность по оси Z находится на уровне лазерных интерферометров, а размер минимальной разрешающей способности в латеральной плоскости ограничивается только дифракционным пределом.

Отдел продаж

Позвоните нам по телефону:
+7 (495) 374-04-01

Оставьте заявку на электронную почту:
[email protected]

Заполните онлайн-форму

Преимущества использования голографии в профилометрии поверхности

Измерения в режиме реального времени. Использование голографии позволяет получать информацию о всем поле кадра одновременно (без сканирования), что делает возможным анализ изменения топологии в реальном времени и позволяет исключить влияние посторонних вибраций. Такая стойкость позволяет получать субнанометровую разрешающую способность не только в условиях лаборатории с хорошей системой виброподавления, но и в условиях цеха, ЦЗЛ, по соседству с источниками акустических и механических вибраций.

Универсальность. Использование технологии голографической микроскопии открывает множество возможностей, недоступных с помощью других методик. Так например, возможность работать с поверхностями с коэффициентом отражения менее 1% делает их применимыми для очень широкого спектра материалов.

Динамический анализ работы микросистемной техники (МЭМС). Тот факт, что данные о поверхности собираются без сканирования, позволяет также исследовать работу разного рода микромеханических систем (МЭМС, МОЭМС). С совместным использованием специального стробоскопического прибора возможно исследование таких устройств на частотах до 25 МГц. Иными словами, перемещение микрозатворов, повороты микролинз и т.п. можно изучать не только в статическом положении, но и в ходе их нормального функционирования, причем перемещения могут одновременно измеряться и в нормальном, и в латеральном направлениях.

 

Оборудование предусматривает несколько базовых моделей, отличающихся каркасом основания, количеством лазеров и вертикальным диапазоном. При этом, каждая из моделей может быть доработана с учетом пожеланий клиента или встроена в уже существующий исследовательский комплекс, производственную линию.